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電子掃描顯微分析金屬含量不如地下金屬探測器

文章來源:北京圣火大地科技www.dhflcsox.cn

電子掃描顯微分析屬于X射線分析法的一種,也叫X射線微區域分析法,主要設備是 電子顯微分析儀(也叫電子探針)。這是近幾十年興起的新方法,利用直徑約1微米的電子束激發試樣以產生X射線,再對所產生的X射線進行譜線分析,根據其中各元素特征譜線 的強度,以確定試樣中各元素的含量和分布情況,但是不如使用了地下金屬探測器的光譜化學分析好用。能分析原子序數5(硼)至92(鈾)的所有元素。這種方法可以不破壞試樣,也可用制備的金相樣品進行分析。能分析某一微區域內 的成分(點分析),也可分析沿一條指定直線的元素的含童變化情況(線掃描),或某種元素在 指定面上的分布悄況(面掃描),這是一般化學分析和光譜化學分析所作不到的。
電子掃描顯微分析,也可在掃描電子顯微鏡上進行。掃描電子顯微鏡(SEM)作為形貌 觀察儀器而問世,目前已成為具有顯微圖像觀察、成分分析和晶體學分析功能的綜合性儀 器。掃描電鏡主要由電子束形成系統、信號檢測系統和掃描系統組成。帶有X射線分光譜 儀或X射線能譜儀的掃描電鏡,均有電子探針的功能,可進行樣品成分的定性和定》分析。
光譜儀的精確度較高,但其操作麻煩,速度慢,不如使用地下金屬探測器進行的光譜化學分析來的快,完成一個樣品的全分析需要半小時,全自動控 制也較困難。能譜儀不需要幾何分光,具有快速、簡便、效率高、適應性強等優點,完成一個 樣品的全分析只需幾分鐘,故而得到廣泛的應用。

 
 

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